FT-IR Analysen in der Elektronikfertigung

Alles hat einen einzigartigen molekularen Fingerabdruck. Auch Ihr Produkt.

Die FT-IR Analysen eröffnen tiefe Einblicke in die molekulare Struktur eines Materials. Dabei ist die spezifische molekulare Signatur so individuell wie ein Fingerabdruck. Kein Spektrum gleicht dem anderen. Aus den geringsten Unterschieden, bei einem Vergleich der scheinbar gleichen Proben, lassen sich Zusatzstoffe, oxidative und thermische Einflüsse oder Verunreinigungen detektieren.

Dabei können die FT-IR Analysen so viel mehr als das. Sie sichern beispielsweise bei einer Produktentwicklung den entscheiden Wettbewerbsvorteil bei der Materialauswahl und offenbaren die Materialzusammensetzung der Wettbewerbsprodukte.

In der Leiterplattenfertigung ermöglichen sie beispielsweise die Analyse der Vernetzung eines Leiterplattensubstrats und vermeiden so z.B. den Leiterplattenverzug oder Ausgasung der Leiterplattenbestandteile während des Lötprozesses. Beides kann auftreten, wenn die Leiterplatten im Produktionsprozess nicht vollständig bzw. nicht gleichmäßig vernetzt sind. Auch eine zu hohe Feuchtigkeitsaufnahme des Leiterplattensubstrats kann bei einer unsachgemäßen Lagerung den Verarbeitungsprozess stören und beim Löten zu Delaminationen führen.

Die Ausgasungen im Lötprozess können dabei nicht nur zur Bildung einer hartnäckigen polymerisierten Kondensat-Schicht führen, sondern auch zu Bildung von kristallinen Rückständen. Diese Rückstände wachsen oft in den Absaugleitungen sowie in strömungsberuhigten Bereichen und führen zur einer ungleichmäßigen Wärmeverteilung in einer Lötanlage und einer deutlichen Verkürzung der Wartungsintervalle. Je nach chemischer Zusammensetzung verbleiben sie als Rückstand nach dem Reinigungsprozess auf der fertigen Baugruppe und können langfristig ihre Qualität negativ beeinflussen. FT-IR Analysen helfen dabei frühzeitig unvernetzte Bestandteile einer Leiterplatte zu erkennen und damit zu vermeiden, dass diese Bestandteile im Lötprozess ausgasen, polymerisieren oder kristallisieren können.

Dabei können mittels der FT-IR Analysen Fehler erkannt werden, die den gängigen Prüfmethoden verborgen bleiben. Produktions- und Lagerungsfehler lassen sich in nur wenigen Minuten detektieren. Die Analyseergebnisse stehen den Kunden unmittelbar nach der Messung digital zur Verfügung. FT-IR Materialanalysen unterstützen Sie bei einem ressourcenschonenden, reibungslosen Produktionsprozess und helfen Mehrkosten, Reklamationen und unnötigen Ausschuss deutlich zu reduzieren.